特許

J-GLOBAL ID：200903098755319835

測定支援方法および装置

発明者： 櫻田 淳二
出願人/特許権者： 株式会社ミツトヨ
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-269447
公開番号（公開出願番号）：特開2004-108852
出願日： 2002年09月17日
公開日（公表日）： 2004年04月08日
要約：

【課題】ワークの簡単な形状情報から作成された形状定義データを用いて、測定パートプログラムの検証、修正が極めて容易に行える測定支援方法および測定支援装置を提供することにある。【解決手段】被測定物の形状定義データを入力する形状定義データ入力部と、前記形状定義データに基づいて輪郭形状を生成する輪郭形状生成部と、測定パートプログラムを入力する測定パートプログラム入力部と、前記測定パートプログラムを解析して解析結果を出力する解析部と、前記解析結果を前記輪郭形状に合成する合成部と、前記合成されたイメージを表示する表示部とを備えた。【選択図】 図1

請求項（抜粋）：

被測定物の形状定義データを入力するステップと、 前記形状定義データに基づいて輪郭形状を生成するステップと、 前記輪郭形状を表示するステップと、 測定パートプログラムを入力するステップと、 前記測定パートプログラムを解析して測定部位を算出するステップとを備え、前記表示ステップは、前記測定部位を前記輪郭形状に重ね合せて表示すること を特徴とする測定支援方法。

IPC (2件)：

G01B21/20 ,  G06T7/60

FI (2件)：

G01B21/20 C ,  G06T7/60 180Z

Fターム (13件)：

2F069AA04 ,  2F069AA66 ,  2F069CC02 ,  2F069DD26 ,  2F069EE22 ,  2F069NN00 ,  2F069QQ05 ,  2F069QQ11 ,  5L096AA09 ,  5L096BA03 ,  5L096FA06 ,  5L096FA79 ,  5L096HA07

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 測定支援システム
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平9-104440   出願人：株式会社ミツトヨ
• 特開平1-163605
  
• 特開昭63-206608