特許
J-GLOBAL ID：200903098765253506
アナログ/ディジタル変換回路測定装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
佐藤 隆久
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-063584
公開番号（公開出願番号）：特開平11-261417
出願日： 1998年03月13日
公開日（公表日）： 1999年09月24日
要約：
【要約】【課題】 簡単な回路構成により、アナログ/ディジタル変換回路のリニアリティ特性を高速、高精度に測定できる測定装置を実現する。【解決手段】 信号発生回路により、所定の傾きを有するランプ信号を発生し、測定対象となるアナログ/ディジタル変換回路に入力し、アナログ/ディジタル変換回路により得られた複数のディジタルコードをメモリに順次記録する。演算回路により、メモリに記録されたディジタルコードに応じて、それぞれのディジタルコードの遷移点を算出し、これに基づき各遷移点のバラツキを求め、算出した各遷移点のバラツキおよびランプ信号の傾きに基づき、入力換算ノイズを算出し、さらに上記算出した各遷移点のバラツキおよびランプ信号の傾きに応じて、アナログ/ディジタル変換回路のリニアリティ特性の測定結果のバラツキを算出できる。
請求項（抜粋）：
所定の波形を有する測定信号を発生し、発生した上記測定信号を測定対象アナログ/ディジタル変換回路に供給する信号発生回路と、上記測定信号に応じて上記測定対象アナログ/ディジタル変換回路により出力された複数のディジタルコードを記録する記録回路と、上記記録回路に記録された上記複数のディジタルコードを用いて、所定の演算処理を行い、当該演算処理の結果に応じて上記測定対象アナログ/ディジタル変換回路のリニアリティ特性を求める演算回路とを有するアナログ/ディジタル変換回路測定装置。
引用特許：
前のページに戻る
