特許
J-GLOBAL ID：200903098770561065
分析用の薄膜試料切断器およびそれを用いた蛍光X線分析方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (3件)：
杉本 修司
, 野田 雅士
, 堤 健郎
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-217819
公開番号（公開出願番号）：特開2008-039717
出願日： 2006年08月10日
公開日（公表日）： 2008年02月21日
要約：
【課題】分析用の薄膜試料切断器を提供し、薄膜試料の切り取りの作業性を向上させるとともに、薄膜試料の分析精度を向上させることを目的とする。【解決手段】分析用の薄膜試料Sを円形に切断するための薄膜試料切断器であって、円筒状で、薄膜試料Sに押圧される輪状の下端面22を有する押圧部2と、押圧部2と同心の円柱状または円筒状で軸心回りに回転自在に押圧部2に収納され、下方に突出する複数の刃34を周方向に均等に有している回転部3と、押圧部の上部21を貫通して突出する回転部の上部33に固定される把持部41とを備え、薄膜試料Sを円形に切断する。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
分析用の薄膜試料を円形に切断するための薄膜試料切断器であって、
円筒状で、前記薄膜試料に押圧される輪状の下端面を有する押圧部と、
その押圧部と同心の円柱状または円筒状で軸心回りに回転自在に前記押圧部に収納され、下方に突出する複数の刃を周方向に均等に有している回転部と、
前記押圧部の上部を貫通して突出する前記回転部の上部に固定される把持部とを備えた薄膜試料切断器。
IPC (2件)：
FI (2件)：
Fターム (15件)：
2G001AA01
, 2G001BA04
, 2G001CA01
, 2G001RA01
, 2G001RA20
, 2G052AA18
, 2G052AB01
, 2G052AD12
, 2G052AD32
, 2G052AD52
, 2G052BA15
, 2G052EC02
, 2G052EC22
, 2G052EC23
, 2G052GA19
