特許
J-GLOBAL ID:200903098780890229

FRET検出方法及び装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (2件): 渡辺 望稔 ,  三和 晴子
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2006-054347
公開番号(公開出願番号):特開2007-232559
出願日: 2006年03月01日
公開日(公表日): 2007年09月13日
要約:
【課題】ドナー分子及びアクセプター分子からなるサンプルについて、短時間に多数のサンプルのFRET検出を行うFRET検出方法及び装置を提供する。【解決手段】本発明のFRETの検出は、まず、周波数f+Δfで強度変調したドナー分子励起用の第1のレーザ光をドナー分子に照射するとともに、周波数fで強度変調したアクセプター分子励起用の第2のレーザ光をアクセプター分子に照射し、アクセプター分子が発する蛍光を受光する。受光した蛍光の蛍光信号から、FRETによりアクセプター分子が発する蛍光の第1の信号成分と、第2のレーザ光の照射により励起したアクセプター分子が発する蛍光の第2の信号成分とを抽出する。抽出した第1の信号成分の位相遅れと、抽出した第2の信号成分の位相遅れとを算出し、これらの位相遅れに基づいて、FRETの発生の有無を判定する。【選択図】図4
請求項(抜粋):
レーザ光の照射によって励起された第1の分子が発する蛍光が励起光として第2の分子を励起し、この励起された第2の分子が発する蛍光を受光することによって、第1の分子のエネルギーが第2の分子に移動するFRET(Fluorescence Resonance Energy Transfer)を検出するFRET検出方法であって、 第1の分子を励起するために、第1の周波数で強度変調した第1のレーザ光を第1の分子に照射するとともに、第2の分子を励起するために、第1の周波数と異なる第2の周波数で強度変調した第2のレーザ光を第2の分子に照射するステップと、 第2の分子が発する蛍光を受光するステップと、 受光した第2の分子が発する蛍光の蛍光信号のうちの前記第1の周波数の信号成分の、第1のレーザ光の強度変調に対する第1の位相遅れと、受光した前記第2の分子が発する蛍光の蛍光信号のうちの前記第2の周波数の信号成分の、第2のレーザ光の強度変調に対する第2の位相遅れとを取り出し、この第1の位相遅れと第2の位相遅れとに基づいて、第1の分子のエネルギーが第2の分子に移動するエネルギー移動を検出するステップと、を有することを特徴とするFRET検出方法。
IPC (1件):
G01N 21/64
FI (1件):
G01N21/64 Z
Fターム (7件):
2G043AA03 ,  2G043CA04 ,  2G043EA01 ,  2G043FA06 ,  2G043GA02 ,  2G043HA01 ,  2G043LA02
引用特許:
出願人引用 (1件)
  • 蛍光分光分析の方法
    公報種別:公開公報   出願番号:特願2004-013317   出願人:オリンパス株式会社

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