特許
J-GLOBAL ID：200903098781183038
上下関係を持つ装置間のインタフェース診断方式
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
古谷 史旺 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-060739
公開番号（公開出願番号）：特開平9-251429
出願日： 1996年03月18日
公開日（公表日）： 1997年09月22日
要約：
【要約】【課題】 本発明は、上下関係を持つ装置間のインタフェース診断方式に関し、接続状態の適否診断実施装置をそれらの装置の状態に応じて変更し漏れのない診断を可能にするインタフェース診断方式を提供することを目的とする。【解決手段】 主制御装置1は、複数の上位制御装置2a、2b、2c及び1以上の機能試験装置3a、3b のそれぞれが運用可能な状態にあるか否かの装置状態を管理する管理手段11と、1以上の機能試験装置のうち運用可能な状態にない機能試験装置を管理手段11を参照して検出し、その1つを診断対象装置として特定する特定手段12と、複数の上位制御装置のうち特定した診断対象装置が接続される上位制御装置のそれぞれが運用可能な状態にあるか否かを管理手段11を参照して判断する判断手段13と、判断手段13が運用可能な状態にあると判断した全ての上位制御装置に対し順々に診断対象装置とのインタフェースを試験させるインタフェース診断起動コマンドを送出する送出手段14とを備えることを特徴とする。
請求項（抜粋）：
システム全体を統括制御する主制御装置と、前記主制御装置に接続される複数の上位制御装置と、前記複数の上位制御装置の全部または一部に共通に接続され、上位制御装置に対する試験機能を有する1以上の機能試験装置とを備える制御システムにおいて、前記主制御装置は、前記複数の上位制御装置及び前記1以上の機能試験装置のそれぞれが運用可能な状態にあるか否かの装置状態を管理する装置状態管理手段と、前記1以上の機能試験装置のうち運用可能な状態にない機能試験装置を前記装置状態管理手段を参照して検出し、その1つを診断対象装置として特定する診断対象特定手段と、前記複数の上位制御装置のうち前記特定した診断対象装置が接続される上位制御装置のそれぞれが運用可能な状態にあるか否かを前記装置状態管理手段を参照して判断する装置状態判断手段と、前記装置状態判断手段が運用可能な状態にあると判断した全ての前記上位制御装置に対し順々に前記診断対象装置とのインタフェースを試験させるインタフェース診断起動コマンドを送出する第1コマンド送出手段とを備えることを特徴とする上下関係を持つ装置間のインタフェース診断方式。
IPC (4件)：
G06F 13/00 301
, G05B 23/02
, G06F 11/22 360
, H04M 3/26
G06F 13/00 301 V
, G05B 23/02 V
, G05B 23/02 X
, G06F 11/22 360 A
, H04M 3/26 Z
