特許

J-GLOBAL ID：200903098791276247

個人認証装置

発明者： 小林 剛史 ,  逸見 和弘
出願人/特許権者： 株式会社東芝
代理人 (1件)： 鈴江 武彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-054713
公開番号（公開出願番号）：特開平9-245174
出願日： 1996年03月12日
公開日（公表日）： 1997年09月19日
要約：

【要約】【課題】電極アレイを構成する電極を選択するスイッチの数を低減し、小型化を可能にする個人認証装置を提供する。【解決手段】複数の電極10-1〜10-100を一次元に配列して構成された電極アレイ10に指を押しつけたときの隣接する電極間の抵抗値を測定し、この抵抗値の分布から指の特徴を抽出して被認証者の照合を行う個人認証装置において、電極アレイ10の上端から奇数番目の電極10-1,10-3,...,10-99にそれぞれ接続される第1のアナログスイッチ群20と、電極アレイ10の上端から偶数番目の電極10-2,10-4,...,10-100を3つの群A,B,Cに分割して、各群A,B,C毎に共通に接続された第2のアナログスイッチ群40とを有し、これら第1および第2のアナログスイッチ群20,40を介して隣接する電極間の抵抗値を測定する。

請求項（抜粋）：

複数の電極を一次元に配列して構成された電極アレイに指を押しつけたときの隣接する電極間の抵抗値を測定し、この抵抗値の分布から指の特徴を抽出して被認証者の照合を行う個人認証装置において、前記電極アレイの一部の電極に個別に接続された第1のアナログスイッチ群と、前記電極アレイの他の電極を複数の群に分割して、各群毎に共通に接続された第2のアナログスイッチ群と、前記第1および第2のアナログスイッチ群を制御する制御手段と、前記第1および第2のアナログスイッチ群を介して前記隣接する電極間の抵抗値を順次測定する測定手段とを有することを特徴とする個人認証装置。

IPC (3件)：

G06T 7/00 ,  G01R 27/02 ,  G06T 1/00

FI (3件)：

G06F 15/62 460 ,  G01R 27/02 R ,  G06F 15/64 G