特許
J-GLOBAL ID：200903098817554399
熱分析装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
林 敬之助
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-265183
公開番号（公開出願番号）：特開平6-118039
出願日： 1992年10月02日
公開日（公表日）： 1994年04月28日
要約：
【要約】【構成】 H型の回転対称形のヒートシンクの対称軸に貫通孔を設け、その貫通孔を塞ぐように試料を載置する。そして、試料上面からヒートシンクの貫通孔と同軸に貫通孔を設けてあり、そしてヒートシンクと同材質の試料保持具にて試料を所定位置に保持する。ヒートシンクの貫通孔に電磁波を通過させて、試料を照射する。試料を照射した電磁波は、試料により回折または透過して試料螺子具の貫通孔から放出される。この放出された電磁波を検出器により検出する。ヒートシンクには、試料近傍と、試料より少し離れた位置にそれぞれ温度検出器が設置されており、示差熱及び試料とシンクの温度は検出される。【効果】 試料の調査分析を熱及び透過電磁線(X線、紫外線)にて温度による影響を調査できる。
請求項（抜粋）：
実質的に回転対称体形状であり、前記回転対称体の対称軸上に試料を載置する熱良導体よりなるヒートシンクと、前記ヒートシンクの外周に巻かれたヒータと、前記ヒータに通電し前記ヒートシンクの温度を制御する温度コントローラと、前記試料を前記ヒートシンクの所定位置に前記ヒートシンクとの間に前記試料を挟み、そして固定支持するための試料固定具と、前記ヒートシンクに設けられた前記回転対称軸上に電磁波が通過し、そして前記試料を透過するために前記ヒートシンクに設けられたヒートシンク貫通孔と、前記試料を通過した電磁波を通過すための前記試料固定具に設けられた固定具貫通孔と、前記回転対称軸上に設けられ、前記試料に前記電磁波を照射するための電磁波発生源と、前記試料に対して前記電磁波発生源の反対側に設けられた電磁波検出器と、前記試料の温度を測定するための前記試料の近傍で前記ヒートシンク内に固定された第一の温度検出器と、前記試料と前記第一の検出器との距離より離れた距離の位置の前記ヒートシンク内に設けられた第二の温度検出器と、前記第一の温度検出器と前記第二の温度検出器との出力差を検出する熱分析信号検出器とからなることを特徴とする熱分析装置。
IPC (2件)：
引用特許：
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