特許
J-GLOBAL ID:200903098860585419

表示装置の輝度特性測定方法および装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 有近 紳志郎
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2001-172068
公開番号(公開出願番号):特開2002-365163
出願日: 2001年06月07日
公開日(公表日): 2002年12月18日
要約:
【要約】【課題】 輝度特性測定中に表示装置の画面の輝度にベース変動が生じても、誤差なく表示装置の輝度特性を測定する。【解決手段】 各階調値Dnに対応する輝度xnを測定するのに対応させて標準輝度Mnを測定する。この標準輝度Mnの変動は、画面の輝度のベース変動を表しているから、これを基にして輝度xnを補正し、誤差のない輝度Xnを得る。【効果】 誤差なく輝度特性を測定できるので、ガンマ補正を適正に行うことが出来る。
請求項(抜粋):
第1階調値D1から第N階調値DNまでの各階調値Dn(1≦n≦N)を表示装置に入力し、各階調値Dnに対応する表示装置の画面の輝度xnを測定する表示装置の輝度特性測定方法であって、輝度xnを測定するのに対応させて標準階調値Doを表示装置に入力し標準輝度Mnを測定し、測定結果の輝度xnを標準輝度Mnを基に補正することを特徴とする表示装置の輝度特性測定方法。
IPC (2件):
G01M 11/00 ,  G02F 1/133 505
FI (2件):
G01M 11/00 T ,  G02F 1/133 505
Fターム (8件):
2G086EE10 ,  2H093NA51 ,  2H093NC54 ,  2H093NC62 ,  2H093ND01 ,  2H093ND06 ,  2H093ND08 ,  2H093ND09
引用特許:
審査官引用 (2件)

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