特許
J-GLOBAL ID：200903098970896231

方位角計測装置、キャリブレーション方法およびキャリブレーションプログラム

発明者：
加藤 静一

加藤 静一 について

, 
山下 昌哉

山下 昌哉 について


出願人/特許権者：
旭化成株式会社

旭化成株式会社 について


代理人 (3件)： 森 哲也 ,  内藤 嘉昭 ,  崔 秀▲てつ▼
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-169911
公開番号（公開出願番号）：特開2004-012416
出願日： 2002年06月11日
公開日（公表日）： 2004年01月15日
要約：
【課題】回転速度に依存することなく、磁気センサのキャリブレーションを精度よく行う。【解決手段】x軸ホール素子HEx、y軸ホール素子HEyおよびz軸ホール素子HEzを所定面内で90または180度ずつ回転させた時のx軸ホール素子HEx、y軸ホール素子HEyおよびz軸ホール素子HEzからの出力増幅値に基づいて、x軸ホール素子HEx、y軸ホール素子HEyおよびz軸ホール素子HEzの現在のオフセット値および感度値を更新する。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
地磁気を検出する2軸以上の磁気センサと、 前記磁気センサの各軸出力に対するオフセット情報を記憶するオフセット情報記憶部と、 前記オフセット情報に基づいて前記磁気センサの出力を補正する補正計算部と、 前記補正計算部による出力補正値に基づいて方位を計算する方位角計算部と、 前記磁気センサが地磁気を検出する軸の内、少なくとも1つ以上の軸が180度回転する間隔で取得した前記磁気センサの出力に基づいて、前記磁気センサの各軸出力に対するオフセット情報を更新するオフセット情報更新部とを備えることを特徴とする方位角計測装置。
IPC (7件)：
G01C17/38 ,  G01C21/00 ,  G01R33/02 ,  G01R33/07 ,  G08G1/0969 ,  G09B29/00 ,  G09B29/10
FI (7件)：
G01C17/38 C ,  G01C21/00 D ,  G01R33/02 L ,  G08G1/0969 ,  G09B29/00 A ,  G09B29/10 A ,  G01R33/06 H
Fターム (15件)：
2C032HB02 ,  2C032HB22 ,  2C032HB25 ,  2C032HC11 ,  2C032HC25 ,  2F029AA01 ,  2F029AA07 ,  2F029AB01 ,  2F029AD03 ,  2G017AA03 ,  2G017AB09 ,  2G017AD53 ,  5H180CC17 ,  5H180CC30 ,  5H180FF04
引用特許：
出願人引用 (3件)

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