特許

J-GLOBAL ID：200903098985550730

分光分析計

発明者： 林 尚典 ,  南光 智昭
出願人/特許権者： 横河電機株式会社
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-304217
公開番号（公開出願番号）：特開2001-124626
出願日： 1999年10月26日
公開日（公表日）： 2001年05月11日
要約：

【要約】【課題】 測定精度の高く組み立て時間の短縮が可能な分光分析計を実現する。【解決手段】 ケースから出射する光をサンプルに照射してその透過または反射光のスペクトルを測定し、または、そのスペクトルを元にサンプルの性状値を求める分光分析計において、光学系部材と発熱部材を別室に配置したり別々のケースに収納し、光の透過孔の直径とフィルタを透過する波長を最適化した。

請求項（抜粋）：

ケースから出射する光をサンプルに照射してその透過または反射光のスペクトルを測定し、または、そのスペクトルを元にサンプルの性状値を求める分光分析計において、前記ケースに収納された光学系部材と発熱部材を別室に配置したことを特徴とする分光分析計。

IPC (2件)：

G01J 3/02 ,  G01J 3/45

FI (2件)：

G01J 3/02 S ,  G01J 3/45

Fターム (16件)：

2G020AA03 ,  2G020BA05 ,  2G020BA20 ,  2G020CA12 ,  2G020CB04 ,  2G020CB23 ,  2G020CB24 ,  2G020CB42 ,  2G020CC22 ,  2G020CC28 ,  2G020CC47 ,  2G020CC55 ,  2G020CD04 ,  2G020CD16 ,  2G020CD22 ,  2G020CD35