特許

J-GLOBAL ID：200903099020463467

点群データ処理装置、点群データ処理方法および点群データ処理プログラムを格納した記録媒体

発明者： 池野 雅之
出願人/特許権者： 旭光学工業株式会社
代理人 (1件)： 松浦 孝
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-184139
公開番号（公開出願番号）：特開2002-005649
出願日： 2000年06月20日
公開日（公表日）： 2002年01月09日
要約：

【要約】【課題】 親測定点群データから、所望のデータ量であってかつ略均等に間引かれた子測定点群データを得る。【解決手段】 3次元測定機20によって測定された被測定物10の表面10aの3次元座標データを、親測定点群データDpとして演算処理装置50の内部メモリ56に格納する。演算処理装置50の演算処理部は52は、ハードディスク54から点群データ処理プログラムPmを読み出して実行し、親測定点群データDpは内部メモリ56から読み出して、間引き処理にって測定点を均等に間引きをするとともに所望の測定点数に削減して、子測定点群データDcとしてハードディスク54に格納する。

請求項（抜粋）：

被測定物の表面に沿って所定方向に等間隔に並んだ複数の測定点の2次元または3次元座標を親測定点群データとして入力する入力手段と、測定点数の目標値を任意に設定する設定手段と、前記親測定点群データの測定点数が前記目標値に一致するまで前記測定点を段階的に間引くことにより、実質的に均等に配置した前記測定点を選択する測定点数削減手段と、前記測定点数削減手段によって前記目標値に一致する数だけ選択された前記測定点の2次元または3次元座標を子測定点群データとして出力する出力手段とを備えることを特徴とする点群データ処理装置。

IPC (2件)：

G01B 21/20 ,  G06F 17/50 624

FI (2件)：

G01B 21/20 C ,  G06F 17/50 624 A

Fターム (20件)：

2F069AA66 ,  2F069BB40 ,  2F069DD15 ,  2F069GG01 ,  2F069GG06 ,  2F069GG52 ,  2F069GG56 ,  2F069GG62 ,  2F069HH01 ,  2F069JJ08 ,  2F069JJ26 ,  2F069LL03 ,  2F069MM32 ,  2F069NN02 ,  2F069NN21 ,  2F069NN25 ,  2F069PP02 ,  2F069QQ05 ,  5B046AA05 ,  5B046EA08