特許
J-GLOBAL ID：200903099026092320

階層的記憶システム用のデータ破損試験方法

発明者：
ブライアン・エル・パターソン

ブライアン・エル・パターソン について


出願人/特許権者：
ヒューレット・パッカード・カンパニー

ヒューレット・パッカード・カンパニー について


代理人 (1件)： 上野 英夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-014113
公開番号（公開出願番号）：特開2001-265536
出願日： 2001年01月23日
公開日（公表日）： 2001年09月28日
要約：
【要約】【課題】データ記憶システムにおいて、データの破損を効率良く検出し、かつ再生して、データ記憶システムの信頼性を向上させるデータ破損試験方法及びそのデータ破損試験方法を組み込んだデータ記憶システムを提供する。【解決手段】本発明の一実施例によれば、コントローラおよびディスクアレイを有する記憶システムであって、ディスクアレイは少なくとも第1および第2記憶領域を有し、第1の記憶領域は第1の平均故障時間(MTTF)に関連し、第2の記憶領域は第2のMTTTFと関連し、コントローラは第1の頻度で第1の記憶領域を試験し、第2の頻度で第2の記憶領域を試験する、記憶システムが提供される。第1および第2の頻度は記憶システムの全体的な信頼性を最適化するよう、それぞれ第1および第2のMTTF基づいている。
請求項（抜粋）：
データの破損に関してデータ記憶システムを試験する方法であって、前記システムは、第1の平均故障時間(MTTF)に関連する第1のデータ記憶領域と、第2のMTTFに関連する第2のデータ記憶領域とを備え、前記方法は、(a)第1の長さの時間の間に前記第1の記憶領域を試験するステップと、(b)第2の長さの時間の間に前記第2の記憶領域を試験するステップと、を備えて成り、(c)前記第1の長さの時間は、少なくとも前記第1のMTTFに基づいている、ことを特徴とする方法。
IPC (3件)：
G06F 3/06 304 ,  G06F 3/06 540 ,  G06F 12/16 330
FI (3件)：
G06F 3/06 304 R ,  G06F 3/06 540 ,  G06F 12/16 330 A
引用特許：
審査官引用 (5件)
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