特許

J-GLOBAL ID：200903099035583949

検査装置

発明者： 美尾 恵己 ,  伊地知 弘明
出願人/特許権者： 株式会社日立製作所 ,  株式会社日立コンピユータエレクトロニクス
代理人 (1件)： 小川 勝男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-216905
公開番号（公開出願番号）：特開平5-054126
出願日： 1991年08月28日
公開日（公表日）： 1993年03月05日
要約：

【要約】【構成】検査データを格納する高速メモリX9、高速メモリY10及び、メモリA14、メモリB15を設け、検査中に、未使用のメモリに、磁気ディスク13から、次に検査する品名の検査データを転送する。【効果】検査中に、検査データの転送を並行して、行うことにより、検査タクトを高速化できる。

請求項（抜粋）：

被検査物の検査データと被検査物の検出結果を比較照合する検査装置において、被検査物の検査データを、1品名分格納できるメモリを、2式以上もち、多量多品名の検査データを格納する外部記憶装置をもち、次に検査する品名を予約入力できる手段を有して、検査実行中に、未使用のメモリに、次に検査する品名の被検査物の検査データを格納する手段を有し、次の品名の検査時、前記、次の検査データを格納したメモリから、検査データを読み出して、検査することを特徴とした検査装置。

IPC (5件)：

G06F 15/62 405 ,  G01N 21/88 ,  G06F 3/06 301 ,  G06F 13/38 310 ,  G06F 15/64 450

引用特許：

審査官引用 (1件)

• 特開平1-108682