特許

J-GLOBAL ID：200903099045149988

液晶素子のセル厚むら検査装置

発明者： 大澤 誠司 ,  磐山 満男
出願人/特許権者： キヤノン株式会社
代理人 (1件)： 近島 一夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-009022
公開番号（公開出願番号）：特開平10-206124
出願日： 1997年01月21日
公開日（公表日）： 1998年08月07日
要約：

【要約】【課題】 セル厚むらを簡単に、かつ短時間で検査することのできる液晶素子のセル厚むら検査装置を提供する。【解決手段】 光源1からの検査光Lを偏光して液晶素子3に入光させる偏光子2の透過軸及び偏光子2から入光した後、液晶素子3を透過した光の偏光成分を取り出す検光子4の透過軸と、液晶素子3の液晶分子のダイレクタとの成す角度を調整する角度調整手段5,6とを設ける。そして、検査時、この角度調整手段5,6にて偏光子2及び検光子4の透過軸と液晶分子のダイレクタとの透過軸の成す角度とが、セル厚むらを画面むらに変換可能な所定範囲となるよう調整することにより、視認によりセル厚むらの検査を行うようにする。

請求項（抜粋）：

液晶素子のセル厚むらを検査する液晶素子のセル厚むら検査装置において、前記液晶素子の透過光の強度むら又は色むらを視認することによりセル厚むらを検査することを特徴とする液晶素子のセル厚むら検査装置。

IPC (3件)：

G01B 11/06 ,  G01M 11/00 ,  G02F 1/13 101

FI (3件)：

G01B 11/06 Z ,  G01M 11/00 T ,  G02F 1/13 101