特許
J-GLOBAL ID：200903099064993340
三次元変位測定方法及び三次元変位測定装置
発明者：
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出願人/特許権者：
,
代理人 (2件)：
一色 健輔 (外3名)
, 一色 健輔 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-042830
公開番号（公開出願番号）：特開平7-253307
出願日： 1994年03月14日
公開日（公表日）： 1995年10月03日
要約：
【要約】 (修正有)【目的】 三次元的に展開した多くの計測器による変位計測を必要とすることなく、塊状物体の三次元的な変位を容易に計測することのできる三次元変位測定方法及び三次元変位測定装置を提供する。【構成】 三次元変位測定装置10は、剛体ブロック11に形成された円錐型の凹面12と、固定台14により支持されて凹面12と対向配置された変位測定器13とによって構成されている。レーザ変位計19から照射されるレーザは、凹面12と衝突して反射するとともに、前記回転台17の回転にともなって、レーザの照射軸Yは、円推形状を描いて回転駆動するとともに、レーザの反射点は、凹面12上を回転走査することにより凹面上に回転軌跡を描くことになる。そして、剛体ブロック11の変位にともなう回転軌跡の変位を解析することにより、剛体ブロック11の変位を、変位測定器13からの相対変位として測定する。
請求項（抜粋）：
塊状物体の三次元的な変位を計測するための三次元変位測定方法であって、被測定物としての塊状物体には、開口部から深部に向かって収束する所定形状の曲平面からなる凹面を設けるとともに、該凹面の開口部には、凹面の中心軸に対して一定の傾斜角度をもって回転駆動することにより、前記凹面上を回転走査してその回転軌跡に沿った凹面との相対距離を測定する変位測定器を対向配置し、前記塊状物体の変位に伴って生じる前記凹面上の回転軌跡の変位を前記相対距離を測定して解析することにより、塊状物体の三次元的な変位を計測することを特徴とする三次元変位測定方法。
IPC (3件)：
G01B 11/00
, E02D 1/00
, G01B 21/00
