特許
J-GLOBAL ID：200903099068576980
長尺状材料用3次元形状測定装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
足立 勉
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-300633
公開番号（公開出願番号）：特開平5-133727
出願日： 1991年11月15日
公開日（公表日）： 1993年05月28日
要約：
【要約】【目的】構成が簡単で、また操作が簡単な長尺状材料用3次元形状測定装置を得る。【構成】全体検出器12が、被測定物10の全体画像を検出し、この全体画像データに基づいて、被測定物10の直線部の中心点a,b,c及び仮の端点d,eを検出する。そして、第1、第2画像検出器14,16が、この中心点a,b,cに基づいて、被測定物10の直線部の拡大画像を検出する。次に、拡大画像データから平面2上のXY座標系の投影中心線g,hを算出し、第1、第2画像検出器14,16の位置座標とから、被測定物10のXYZ座標系における第1中心線を算出する。これを各中心点b,cについて繰り返し実行して、被測定物10の各中心線を算出する。
請求項（抜粋）：
平面上に載置された長尺状材料を曲げ加工した被測定物の測定箇所を2次元画像として検知する2つの第1、第2画像検出器を、所定距離離れて所定位置に配置すると共に、前記第1、第2画像検出器による前記被測定物の画像から、前記被測定物の前記平面上への投影中心線をそれぞれ算出する投影算出手段と、前記算出した両投影中心線及び前記第1、第2画像検出器の位置から、これらを含むそれぞれの平面を算出し、両平面の交線を被測定物の中心線として算出する中心線算出手段とを備えたことを特徴とする長尺状材料用3次元形状測定装置。
IPC (2件)：
G01B 11/24
, G06F 15/62 415
