特許

J-GLOBAL ID：200903099091995184

X線検出器のための画像補正方法

発明者： ミヒャエル オーヴェルディック ,  ヴァルター リュッテン
出願人/特許権者： コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ
代理人 (1件)： 伊東 忠彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-239855
公開番号（公開出願番号）：特開2002-162473
出願日： 2001年08月07日
公開日（公表日）： 2002年06月07日
要約：

【要約】【課題】 本発明は、残像効果の改善された補正を有する後ろに取り付けられた光源を含むX線検出器のための画像補正方法を提供することを目的とする。【解決手段】 本発明は、いわゆる利得効果が公知の方法を用いては排除され得ないといった認識に基づく。しかしながら、利得効果は、従来の診断用のX線量の場合に見られるように数パーセントだけ増幅を増加させ、アーチファクトを有する明画像を生じさせる。本発明によると、利得効果は、組み込み式の光源を用いて光源画像の捕捉によって測定され、それに基づいて利得効果の強さ並びに補正係数が1ピクセルずつ決定される。明画像のピクセル値は、補正係数を用いて補正される。

請求項（抜粋）：

X線を光に変換するシンチレータが先行し全てのフォトダイオードの均一な照明のための光源が後続するフォトダイオードを具備するセンサマトリックスを含むフラットダイナミックX線検出器のための画像補正方法であって、上記センサマトリクスは、X線の露光による全ての利得効果の減少後に、上記X線源の代わりに上記光源を用いて少なくとも1回照射され、従って得られる光源基準画像が記憶され、X線の露光による上記利得効果の減少前のその後の瞬間に、上記センサマトリクスは、上記X線源の代わりに上記光源を用いて再び照射され、従って得られる光源画像が記憶され、補正値は、上記光源画像のピクセル値と上記光源基準画像のピクセル値との商として1ピクセルずつ計算され、上記補正値を考慮する一方で、X線の影響下で1ピクセルずつ測定される各ピクセル値から補正されたピクセル値がその後決定される、上記センサマトリクスの各マトリクスセルに対して利得効果が個別的に決定されることを特徴とする画像補正方法。

IPC (5件)：

G01T 1/20 ,  A61B 6/00 300 ,  G06T 1/00 400 ,  H04N 5/32 ,  H04N 7/18

FI (7件)：

G01T 1/20 J ,  G01T 1/20 E ,  A61B 6/00 300 S ,  G06T 1/00 400 B ,  H04N 5/32 ,  H04N 7/18 K ,  H04N 7/18 L

Fターム (35件)：

2G088EE01 ,  2G088FF02 ,  2G088GG19 ,  2G088JJ05 ,  2G088KK32 ,  2G088LL11 ,  2G088LL17 ,  4C093AA01 ,  4C093AA07 ,  4C093AA16 ,  4C093CA09 ,  4C093EB12 ,  4C093EB13 ,  4C093EB17 ,  4C093FA32 ,  4C093FA60 ,  4C093FC16 ,  4C093FC17 ,  4C093FC19 ,  5B047AA17 ,  5B047AB02 ,  5B047BB04 ,  5B047CB05 ,  5B047CB30 ,  5B047DA10 ,  5B047DC06 ,  5C024AX11 ,  5C024CX17 ,  5C024CY44 ,  5C054AA06 ,  5C054CA02 ,  5C054CC01 ,  5C054ED11 ,  5C054FC15 ,  5C054HA12