特許
J-GLOBAL ID：200903099134122449
液晶パネル検査装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
草野 卓 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-092766
公開番号（公開出願番号）：特開平5-288641
出願日： 1992年04月13日
公開日（公表日）： 1993年11月02日
要約：
【要約】【目的】 液晶表示パネルの各画素の欠陥を分解能よく検出し、微小な欠陥も検出することができる液晶パネル検査装置を提供する。【構成】 被検査液晶パネルの表示状態を撮像素子で撮像し、その撮像信号からオフセット成分を除去し、オフセット成分を除去した信号を可変利得増幅器で可及的に高利得増幅し、微小欠陥部分で発生する微小な電圧変化を大きく増幅し、この増幅して得られた画素信号を使って被検査液晶パネルの欠陥を分解能よく判定する。
請求項（抜粋）：
A.被検査液晶パネルの表示面を撮像する撮像素子と、B.この撮像素子から出力される撮像信号のオフセット電圧を除去するオフセット除去回路と、C.オフセット除去回路でオフセット電圧が除去された撮像信号を高倍率で増幅する可変利得増幅器と、D.この可変利得増幅器で増幅した撮像信号が所定値以上変動したことを検出して被検査液晶の欠陥を検出する画像処理装置と、とによって構成した液晶パネル検査装置。
IPC (3件)：
G01M 11/00
, G02F 1/13 101
, G09G 3/36
