特許
J-GLOBAL ID：200903099161017681
電子部品の製造方法
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
滝本 智之 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-102106
公開番号（公開出願番号）：特開平8-298203
出願日： 1995年04月26日
公開日（公表日）： 1996年11月12日
要約：
【要約】【目的】 本発明は、焼付けによって形成された電極の酸化被膜を破壊するものであり、酸化被膜による抵抗値の上昇を防止し、素子本来の特性を発現させることを目的とするものである。【構成】 そして、この目的を達成するために本発明は、素子表面に設けた少なくとも一対の電極に圧力を加え、電極の酸化被膜を破壊するものである。
請求項（抜粋）：
素子表面に設けた少なくとも一対の電極の少なくとも一部に圧力を加え、電極の酸化被膜を破壊する電子部品の製造方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
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