特許
J-GLOBAL ID：200903099168207826
マイクロコンピュータ及びその試験方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
高田 守
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-122677
公開番号（公開出願番号）：特開平6-333063
出願日： 1993年05月25日
公開日（公表日）： 1994年12月02日
要約：
【要約】【目的】 同一の機能モジュールを複数搭載するワンチップマイクロコンピュータにおいて、その機能モジュールのテストを同時に実施し、テスト時間を短縮する。【構成】 同一の出力抵抗を有する読出バッファ3a,3b 及びしきい値電圧が電源電圧Vの1/2 未満の検出バッファ53と、しきい値電圧がV/2 超過の検出バッファ54と、EX-OR ゲート55とよりなる検出回路を備え、内部バス4の電位がV/2 であるか否かを検出することにより機能モジュールの不良、良を判定するよう構成する。
請求項（抜粋）：
複数の同一機能モジュールのレジスタの内容を読出バッファ及び内部バスを介して外部へ出力するマイクロコンピュータにおいて、実質的に同一の出力抵抗を有する複数の読出バッファと、内部バスの電位が所定2電位の中間の電位となるか否かを検出する検出回路とを備えたことを特徴とするマイクロコンピュータ。
IPC (2件)：
G06F 15/78 510
, G06F 11/22 340
