特許
J-GLOBAL ID：200903099260586590
磁気検出方法及び装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
北野 好人
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-071116
公開番号（公開出願番号）：特開平11-271412
出願日： 1998年03月20日
公開日（公表日）： 1999年10月08日
要約：
【要約】【課題】 高い時間分解能で磁場の変化を測定でき、外部からの電磁誘導による雑音の影響を受けにくい磁気測定方法及び装置を提供する。【解決手段】 磁場測定用の半導体10の一方の側に、半導体10に励起光を照射する光励起光源12と、半導体10にパルス光を照射する光パルス光源14とが設けられ、半導体10の他方の側に、透過するパルス光を検出する光検出器16が設けられている。外部磁場により半導体10にゼーマン分裂が起こり、円偏光の励起光によって生じるキャリアスピンの上向きの数と下向きの数との間に差が生ずる。直線偏光のパルス光が外部磁場に平行な方向に透過すると、このスピン分極により、円偏光の右回り成分と左周り成分に差が発生する。光検出器16は、パルス光の右回り成分と左回り成分との差を検出して、磁場の強さを測定する。
請求項（抜粋）：
光励起された半導体にパルス光を照射し、前記半導体を透過又は反射するパルス光から前記半導体に生じたスピン分極を検出し、検出されたスピン分極に基づいて磁場を測定することを特徴とする磁気検出方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01R 33/06 Z
, G01R 33/02 A
