特許

J-GLOBAL ID：200903099296672590

光走査装置

発明者： 市川 順一
出願人/特許権者： 富士ゼロックス株式会社
代理人 (4件)： 中島 淳 ,  加藤 和詳 ,  西元 勝一 ,  福田 浩志
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-273957
公開番号（公開出願番号）：特開2006-091157
出願日： 2004年09月21日
公開日（公表日）： 2006年04月06日
要約：

【課題】 光源の広がり角度変化の影響を受けにくく、かつ、光量損失を抑制可能な光走査装置を提供する。【解決手段】 コリメータレンズ14によって平行光化されたレーザビームLBは、第1アパーチャ16に入射される。第1アパーチャ16へ入射されたレーザビームLBは、第1開口16Aによってビームの断面形状が整形される。第1開口16Aの縦方向Hの長さL1は、第2開口20Aの同方向の長さL2よりも長いものとされている。ビームの断面形状の整形されたレーザビームLBは、ハーフミラー18へ入射され、ハーフミラー18を透過する走査用ビームSBと、ハーフミラー18で反射されフィードバック制御用に用いられるフィードバック用ビームFBと、に分離される。ハーフミラー18の下流側には、第2開口20Aが形成された第2アパーチャ20が配置されている。【選択図】 図1

請求項（抜粋）：

光源と、 前記光源から出射された光ビームを走査用光ビームとフィードバック用光ビームとに分離する分離部材と、 前記分離部材で分離された走査用光ビームを偏向して、被走査面上に走査する光偏向手段と、 前記分離部材と前記光偏向手段の間に配置され、前記走査用光ビームの断面形状を整形する第2開口の形成された第2のアパーチャと、 前記分離部材で分離されたフィードバック用光ビームを受光して、このフィードバック用光ビームの光量を検出する光センサと、 前記光センサで検出された光量に基づいて、前記光源から出射する光量を制御する制御手段と、 前記光源と前記光センサの間に配置され、前記光ビームの断面形状を整形する、前記第2開口よりも大きな第1開口の形成された第1のアパーチャと、 を備えた光走査装置。

IPC (3件)：

G02B 26/10 ,  B41J 2/44 ,  H04N 1/113

FI (3件)：

G02B26/10 Z ,  B41J3/00 D ,  H04N1/04 104A

Fターム (23件)：

2C362AA26 ,  2C362AA40 ,  2C362AA47 ,  2C362AA53 ,  2C362AA55 ,  2C362AA63 ,  2C362BA82 ,  2C362DA03 ,  2H045AA01 ,  2H045CB42 ,  2H045DA41 ,  5C072AA03 ,  5C072BA05 ,  5C072BA20 ,  5C072DA02 ,  5C072DA05 ,  5C072HA02 ,  5C072HA06 ,  5C072HA08 ,  5C072HA13 ,  5C072HB04 ,  5C072HB10 ,  5C072XA01

引用特許：

出願人引用 (2件)

• 半導体レーザアレイ記録装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-009934   出願人：株式会社リコー
• ディスク装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平10-207526   出願人：アルパイン株式会社