特許

J-GLOBAL ID：200903099304934265

サーマルヘッド用ドライバICの検査方法

発明者： 佐々木 一英
出願人/特許権者： ローム株式会社
代理人 (1件)： 松尾 憲一郎
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-256515
公開番号（公開出願番号）：特開2001-080101
出願日： 1999年09月10日
公開日（公表日）： 2001年03月27日
要約：

【要約】【課題】 サーマルヘッドに配設した複数個のドライバICから不良のドライバICを特定する検査方法であって、簡単で確実に検査を行うことができるとともに、短時間かつ低コストで検査可能な検査方法を提供する。【解決手段】 サーマルヘッドのCOM端子より定電流を入力し、同サーマルヘッドのドライバICの1つのスイッチ用トランジスタ素子のみをオン状態とし、かつ、それ以外のスイッチ用トランジスタ素子は全てオフ状態として、COM端子とGND端子間の電圧を測定し、オン状態とするスイッチ用トランジスタ素子を順番にかえながら、全スイッチ用トランジスタ素子に対するCOM端子とGND端子間の電圧値を測定し、測定された電圧値の平均値をとり、同平均値の1.1 倍より高い値となった電圧値の検出されたスイッチ用トランジスタ素子を含むドライバICを不良と判定する検査方法。

請求項（抜粋）：

サーマルヘッドに配設した複数個のドライバICから不良のドライバICを特定する検査方法であって、サーマルヘッドのCOM端子より定電流を入力し、同サーマルヘッドのドライバICの1つのスイッチ用トランジスタ素子のみをオン状態とし、かつ、それ以外のスイッチ用トランジスタ素子は全てオフ状態として、COM端子とGND端子間の電圧を測定し、オン状態とするスイッチ用トランジスタ素子を順番にかえながら、全スイッチ用トランジスタ素子に対するCOM端子とGND端子間の電圧値を測定することによって不良のドライバICの特定を行うことを特徴とするサーマルヘッド用ドライバICの検査方法。