特許

J-GLOBAL ID：200903099368421776

光ディスク、光ディスクの検査方法、光ディスクの検査装置

発明者： 西澤 昭
出願人/特許権者： 日本ビクター株式会社
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-144570
公開番号（公開出願番号）：特開2000-339767
出願日： 1999年05月25日
公開日（公表日）： 2000年12月08日
要約：

【要約】【課題】 光ディスクAに設けられている透かし模様パターン6を検出して光ディスクAの良否判別を行う検査装置を提供する。【解決手段】 点光源10から出射する光線10a又は平行光線10bを検査光線として、光ディスクのAの基板表面1bに対して照射する照射手段と、光ディスクAから反射した反射光12の反射光強度パターン13を検出する画像取込回路15と、この反射光強度パターン13と基準パターンとを照合する比較回路16と、照合結果が所定の範囲内であれば光ディスクAを良品の光ディスクと判定し、照合結果が所定の範囲外であれば不良品の光ディスクと判定する良否判定回路20とを有している。

請求項（抜粋）：

基板上に、反射層、紫外線硬化型接着剤を用いて成る接着層、保護層を順次積層して成る光ディスクであって、所定の模様パターンが形成されている遮光マスクを介して、紫外線を前記保護層側から前記接着層に照射して、前記接着層上に前記模様パターンで露光又は遮光される部分と、前記模様パターン以外の部分で遮光又は露光される部分とを形成することによって、露光される部分と遮光される部分とにおける紫外線硬化型接着剤の硬化速度の違いを利用して、前記反射層上には、前記模様パターンに対応した凹凸形状の透かし模様パターンが形成されており、前記透かし模様パターンは、点光源から出射する光線又は平行光線を前記基板表面上に照射することによって、検出可能であることを特徴とする光ディスク。

IPC (2件)：

G11B 7/24 541 ,  G11B 7/26

FI (2件)：

G11B 7/24 541 G ,  G11B 7/26

Fターム (8件)：

5D029PA08 ,  5D029RA27 ,  5D029RA30 ,  5D029RA50 ,  5D121AA03 ,  5D121AA07 ,  5D121FF01 ,  5D121HH20