特許

J-GLOBAL ID：200903099390305534

粒子搬送装置及び粒子測定装置

発明者： 井阪 和夫 ,  高木 博嗣 ,  八木 隆行
出願人/特許権者： キヤノン株式会社
代理人 (1件)： 丸島 儀一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-328069
公開番号（公開出願番号）：特開平6-174630
出願日： 1992年12月08日
公開日（公表日）： 1994年06月24日
要約：

【要約】【目的】 簡便な構成で粒子を安定して搬送することができる装置を提供すること。【構成】 5つの電極対21(21′)乃至25(25′)を流路1の流れ方向に沿って形成する。隣合う電極対に交互に高周波電圧を与えて電界を発生させることで粒子を搬送することができる。

請求項（抜粋）：

不均一な強度分布を持った電界を発生する電極を粒子が搬送される流路に沿って複数配置したことを特徴とする粒子搬送装置。

IPC (2件)：

G01N 15/14 ,  B65G 54/02

引用特許：

審査官引用 (2件)

• 特開昭47-044365
  
• 特開昭48-016260