特許

J-GLOBAL ID：200903099395649274

自動試験機及び搬送試験システム

発明者： 関屋 幸雄 ,  柿沢 貞雄
出願人/特許権者： 富士通株式会社
代理人 (1件)： 茂泉 修司
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-028353
公開番号（公開出願番号）：特開平8-220168
出願日： 1995年02月16日
公開日（公表日）： 1996年08月30日
要約：

【要約】【目的】被試験品をメモリに格納されたテストデータにおける測定項目別に且つスキップフラグに従って試験し、切替系及び製品接続インタフェース部を介して専用タイプと汎用タイプとを含む測定器によりその試験結果を測定して該メモリに格納する自動試験機に関し、ハード構成が小規模で済みスキップフラグの指定により再試験が容易で測定順序が可変にできるようにする。【構成】測定器及び切替系を専用タイプ用の専用測定ブロックと汎用タイプ用の基本測定ブロックとに分けるとともに該専用測定ブロックの測定器と切替系との組合せを複数に分け、全切替系を共通に該製品接続インタフェース部に接続し、該テストデータにおける項目別測定データ内に各専用測定ブロックの測定器に対してテーブルで登録しておき、該スキップフラグにより測定すべき対象として指定されている専用測定ブロックの測定器を抽出して該テストデータに登録しておく。

請求項（抜粋）：

被試験品をメモリに格納されたテストデータにおける測定項目別に且つスキップフラグに従って試験し、切替系及び製品接続インタフェース部を介して専用タイプと汎用タイプとを含む測定器によりその試験結果を測定して該メモリに格納する自動試験機において、該測定器及び該切替系を該専用タイプ用の専用測定ブロックと該汎用タイプ用の基本測定ブロックとに分けるとともに該専用測定ブロックの測定器と切替系との組合せを複数に分け、全切替系を共通に該製品接続インタフェース部に接続し、該テストデータにおける項目別測定データ内に各専用測定ブロックの測定器に対してテーブルで登録しておき、該スキップフラグにより測定すべき対象として指定されている専用測定ブロックの測定器を抽出して該テストデータに登録しておくことを特徴とした自動試験機。