特許
J-GLOBAL ID：200903099397215662
被検物体の測定方法、及び該方法を用いた眼科装置
発明者：
出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-194455
公開番号（公開出願番号）：特開2007-007297
出願日： 2005年07月01日
公開日（公表日）： 2007年01月18日
要約：
【課題】 簡単な構成で、受光信号に含まれる自己相関信号を除くことができ、シャープな画像を得ることができるスペクトル干渉を用いた被検物体の測定方法、及び眼科装置を提供する。【解決手段】 低コヒーレント長の光の一部を被検物体に照射して反射光を物体光とするとともに低コヒーレント長の光の一部を参照光として物体光と合成して干渉させ,得られた干渉光を所定の周波数成分に分光して受光して受光信号を得るとともに、受光信号をフーリエ変換又は逆フーリエ変換して位相物体の断層像撮影または光学表面プロファイルの測定を行う被検物体の測定方法において、低コヒーレント長の光のパワースペクトルを予め求めておき、受光信号に含まれる参照光の自己相関関数を,予め求めたパワースペクトルに基づいて取り除き、参照光の自己相関信号が取り除かれた受光信号に対してフーリエ変換又は逆フーリエ変換することにより被検物体の画像情報を得る。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
低コヒーレント長の光の一部を被検物体に照射して反射光を物体光とするとともに前記低コヒーレント長の光の一部を参照光として前記物体光と合成して干渉させ,得られた干渉光を所定の周波数成分に分光して受光して受光信号を得るとともに、該受光信号をフーリエ変換又は逆フーリエ変換して位相物体の断層像撮影または光学表面プロファイルの測定を行う被検物体の測定方法において、前記低コヒーレント長の光のパワースペクトルを予め求めておき、前記受光信号に含まれる参照光の自己相関関数を,予め求めたパワースペクトルに基づいて除しておき、前記参照光の自己相関信号が取り除かれた前記受光信号に対してフーリエ変換又は逆フーリエ変換することにより被検物体の画像情報を得ることを特徴とする被検物体測定方法。
IPC (1件)：
FI (1件)：
引用特許：
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