特許
J-GLOBAL ID:200903099433545623
フロー式粒子画像解析方法および装置
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (1件):
小川 勝男
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平8-129598
公開番号(公開出願番号):特開平9-311102
出願日: 1996年05月24日
公開日(公表日): 1997年12月02日
要約:
【要約】【課題】フロー式粒子画像解析装置において、複雑な処理を行わずに粒子画像の最適な合焦点位置を知り、焦点調節する。【解決手段】特徴抽出回路27からの焦点調節に関係する粒子画像特徴パラメータと、識別回路28の粒子分類・識別結果のうち焦点調節に必要な粒子種類を取り出し、焦点位置判定部60にて合焦点位置からのずれ量を計算する。焦点位置判定部60では、複数の粒子の特徴パラメータの平均値をパラメータ平均処理部61で計算し、合焦点位置からのずれ演算部62でずれ量を求める。合焦点位置からのずれ演算部62はニューラルネットワークで構成されている。
請求項(抜粋):
粒子を懸濁したサンプル液をシース液で包囲してフローセル中を流し、上記サンプル液に光線を照射して、サンプル液中の粒子を撮像し、撮像した粒子画像を画像解析して、粒子分類を行うフロー式粒子画像解析方法において、光学系の焦点調節のために、粒子解析に使用した1個または複数の粒子特徴パラメータを使って、合焦点位置からのずれ量を測定する段階を有することを特徴とするフロー式粒子画像解析方法。
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