特許

J-GLOBAL ID：200903099445038476

固体撮像素子の欠陥検出装置

発明者： 佐藤 泰史 ,  小松 理江子
出願人/特許権者： ソニー株式会社
代理人 (1件)： 松隈 秀盛
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-159483
公開番号（公開出願番号）：特開平7-023297
出願日： 1993年06月29日
公開日（公表日）： 1995年01月24日
要約：

【要約】【目的】 カメラ撮像動作中に固体撮像素子の欠陥を検出し補正する装置を提供すること。【構成】 固体撮像素子1から供給される画素信号をラッチ(5)して検査画素を中心に周辺画素を並べ、検査画素と隣接画素の差をとって欠陥画素の可能性を調べる(8,10)と共に、画像のエッジを判定し(9,11)、画像のエッジと欠陥の可能性がある画素が重なっているときにそれを欠陥とするか否かを判定する(12)ようにする。

請求項（抜粋）：

固体撮像素子から供給される画素信号をAGC増巾器を含む信号処理回路を経て送出する映像信号回路において、前記画素信号中に含まれる欠陥画素信号を撮像中に検出する装置であって、検査画素信号とその隣接画素信号との信号レベル差を調べるレベル判定回路と、検査画素信号の周囲に画像のエッジが存在しないかどうかを調べるエッジ判定回路と、検査画素信号が画像エッジにかかっている場合にその画素が欠陥画素であるか否かを判定するエッジ欠陥判定回路と、前記レベル差判定回路、エッジ判定回路及びエッジ欠陥判定回路の出力に基いて欠陥検出を行なう論理演算回路とを具備することを特徴とする画素信号の欠陥検出装置。