特許

J-GLOBAL ID：200903099516924790

計測量差検出装置

発明者： 森川 誠
出願人/特許権者： 山武ハネウエル株式会社
代理人 (1件)： 堀 進 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-053422
公開番号（公開出願番号）：特開平9-243397
出願日： 1996年03月11日
公開日（公表日）： 1997年09月19日
要約：

【要約】【課題】 基本的に1つの信号経路で2つの計測量の差に比例した検出値が得られる検出装置を提供する。【解決手段】 検出対象の物理量又は化学量に対応した2つの計測量(C1 ,C2 )の差を検出する計測量差検出装置において、2つの計測量のいずれか一方(C1 又はC2 )の関数と2つの計測量の和(C1 +C2 )の関数とを生成し、それら関数の値から、2の補数を用いた演算処理により、2つの計測量の差 (C1-C2)をそれらの和 (C1 +C2)で割った関数を出力するように構成されている。

請求項（抜粋）：

検出対象の物理量又は化学量に対応した2つの計測量(C1 ,C2 )の差を検出する計測量差検出装置において、前記2つの計測量のいずれか一方(C1 又はC2 )の関数と前記2つの計測量の和(C1 +C2 )の関数とを生成し、それらの関数から、前記2つの計測量の差 (C1 -C2)を前記2つの計測量の和 (C1 +C2)で割った関数を出力する演算ブロックを備えたことを特徴とする計測量差検出装置。

IPC (3件)：

G01D 1/16 ,  G01R 27/02 ,  G01R 27/26

FI (3件)：

G01D 1/16 A ,  G01R 27/02 R ,  G01R 27/26 C