特許
J-GLOBAL ID：200903099536972309
光学的パターン認識を用いて画像品質を測定するための手段
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
新実 健郎 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-296330
公開番号（公開出願番号）：特開平5-210738
出願日： 1992年10月07日
公開日（公表日）： 1993年08月20日
要約：
【要約】【目的】 画像品質の客観的測定を行うことである。【構成】 光学的パターン認識を用いて種々の形態における可視画像及び文書の画像品質を測定するための手段であって、認識感度及びエラー頻度の計算及び分析用アルゴリズムを有する光学的認識装置をテストパターンとともに用い、未知テスト対象、画像又は文書を読取可能性及び分解能に関する信頼性において認識感度を有するOCRプログラム等を用いて測定するものである。
請求項（抜粋）：
光学的パターン認識を用いて画像再生媒体の画像品質を客観的に測定するための手段であって、パターン認識装置をテストパターンと共に用いることにより画像又はテキストの読取可能性及び分解能からなる品質パラメータを客観的に測定し、かつ読取ることを特徴とする画像品質測定手段。
IPC (2件)：
G06F 15/70 455
, G06F 15/62 410
