特許

J-GLOBAL ID：200903099539831145

3次非線形感受率測定方法及び装置

発明者： 木口 雅史 ,  加藤 美登里
出願人/特許権者： 株式会社日立製作所
代理人 (1件)： 小川 勝男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-269614
公開番号（公開出願番号）：特開平10-115573
出願日： 1996年10月11日
公開日（公表日）： 1998年05月06日
要約：

【要約】【課題】 粉末試料や膜試料の3次非線形感受率を測定する方法とその装置を提供する。【解決手段】 回転台41を回して、フォトダイオード40を邪魔にならないような位置に退避させる。続いてシャッター3を開いて、ビーム32、33を試料に照射する。ビーム33の入射角は、全反射臨界角より小さくする。回転台10を回転して62度近傍で角度を掃引して、信号強度が最も強くなる角度を探す。この時が、ビーム31と32の入射角の大きさが丁度等しくなった時なので、この時の回転台の角度を読めば、正確な入射角が分かる。これに基づいて3次非線形感受率をコンピュータ16により求める。【効果】 測定困難な粉末試料や不均質な膜試料の3次非線形感受率が測定できる。

請求項（抜粋）：

プリズムもしくは基板に被測定試料を密着させ、3つのレーザ光を用いて、被測定試料内で4光波混合を行う際に、すくなくとも1つの光をプリズムもしくは基板内で全反射せしめ、試料より発生する光の偏光、強度を測定することにより、試料の3次非線形感受率を測定する3次非線形感受率測定方法。

IPC (3件)：

G01M 11/00 ,  G01N 21/27 ,  G01N 21/65

FI (3件)：

G01M 11/00 T ,  G01N 21/27 C ,  G01N 21/65