特許
J-GLOBAL ID:200903099547645636

伝送品質監視回路

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 磯村 雅俊 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平8-028873
公開番号(公開出願番号):特開平9-224030
出願日: 1996年02月16日
公開日(公表日): 1997年08月26日
要約:
【要約】【課題】 CRCチェックの結果に対し、簡単なカウンタと簡易なロジックを用いて、ATM処理装置間の伝送品質を常時検証することを可能にする。【解決手段】 CRCチェック部301がCRCエラーを連続して検出した回数(C1)を計測する連続用カウンタ303と所定周期(T)でCRCエラー数(C2)を計測する長時間用カウンタ306を併用し、連続用カウンタについて予め定めた規定値(N1)をC1が超過したことと、長時間用カウンタについて予め定めた規定値(N2)をC2が超過したことを常時監視し、セル同期を判定すると共に、伝送品質劣化、規定外間欠エラー、規定内間欠エラー、及び正常状態別に伝送品質を常時検証する。
請求項(抜粋):
プロセッサを含む処理系装置を備え、セルと呼ばれる固定長のパケット単位にデータを処理するATM処理装置において、該ATM処理装置の伝送路インタフェース部内のHEC同期部には、伝送路上の連続するビット列からセルとして当該処理装置に取り込む際にセルの先頭を識別するためのCRCチェックを行い、エラーを検出する手段と、連続して発生するエラー数を計測する連続用カウンタ、該連続用カウンタの値と予め定めた第1の規定値とを比較する連続用比較部、及び該連続用カウンタの値をクリアするためのリセット信号送出部を有する連続エラー検出カウンタ部と、予め定めた周期内のエラー数を計測する長時間用カウンタ、該長時間用カウンタの計測周期を監視する周期監視部、前記予め定めた周期内の長時間用カウンタの値と予め定めた第2の規定値とを比較する長時間用比較部、及び長時間用カウンタの値をクリアするためのリセット信号送出部を有する長時間エラー検出カウンタ部と、前記連続エラー検出カウンタ部及び長時間エラー検出カウンタ部の検出結果からエラーの内容を判定する判定機能部と、を備え、前記HEC同期部にて、CRCチェックを行った結果がエラーとなった回数に対し、前記連続用カウンタの値が前記第1の規定値を超過した場合はセル同期外れと判定し、その後、前記長時間用カウンタの値が前記第2の規定値を超過した場合には伝送品質劣化と判定し、該長時間用カウンタの値が該第2の規定値を超過しない場合には規定の伝送品質を満足する規定内間欠エラーと判定し、単に該長時間用カウンタの値が該第2の規定値を超過する場合には規定の伝送品質を満足しない規定外間欠エラーと判定し、前記連続用カウンタの値が前記第1の規定値を超過せず、かつ前記長時間用カウンタの値が前記第2の規定値を超過しない場合には伝送品質が正常であると判定し、前記処理系装置に通知するように構成したことを特徴とする伝送品質監視回路。
IPC (6件):
H04L 12/28 ,  H04L 1/00 ,  H04L 7/00 ,  H04L 12/24 ,  H04L 12/26 ,  H04Q 3/00
FI (5件):
H04L 11/20 D ,  H04L 1/00 D ,  H04L 7/00 H ,  H04Q 3/00 ,  H04L 11/08

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