特許

J-GLOBAL ID：200903099582470679

電流導体を検出し電流導体を流れる電流を測定するための装置

発明者： ルートガー ヘービング ,  ユルゲン クンツェ ,  カール-ハインツ ルスト
出願人/特許権者： ルスト アントリープステヒニク ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング
代理人 (1件)： 矢野 敏雄 (外3名)
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-511363
公開番号（公開出願番号）：特表平10-506193
出願日： 1995年09月25日
公開日（公表日）： 1998年06月16日
要約：

【要約】磁界を測定するための測定装置は、特にそのような磁界を発生する電流の強さをポテンシャルフリーに測定するために用いられる。所属の電流導体に特別に挿入すべき中間部材を回避するために、また、電流導体を設けるためにのみ必要なクランプ装置に中間部材の代わりに測定装置を取付けるために、本発明の実施形態では2つの測定ブリッジが設けられている。測定ブリッジは電流導体の両側で固定されており、2つの測定ブリッジのずれは、電流の磁界によって制御回路を介して評価される。

請求項（抜粋）：

ホイートストンブリッジとして構成されており、磁気抵抗性測定抵抗(M)から成る測定ブリッジ(B)の形の測定素子(A)を有する電気制御回路(S)を有しており、前記測定ブリッジ(B)にブリッジ電圧(Ub)が印加されており、前記ブリッジ電圧(Ub)によって、電流(Io)により電流導体(Li)の直接周囲(Z)に生じる磁界強度を測定するために測定電圧(Um)が取り出され、測定ブリッジ(B)の測定電圧(Um)は補償導体(Lk)の補償電流(Ik)を制御し、前記補償電流(Ik)は、測定素子(A)によって測定される磁界強度を補償するように選定され、その結果補償電流(Ik)が電流(Io)に比例する、電流導体を流れる電流を測定するための装置において、(a)測定素子(A)として、ブリッジ電圧(Ub)が加えられており、並列に接続された2つの測定ブリッジ(Bo、Bu)が設けられており、前記測定ブリッジ(Bo、Bu)は、所属の測定ブリッジ(Bo、Bu)に配置されたそれぞれ4つの磁気抵抗性測定抵抗(M)から成り、(b)測定ブリッジ(Bo、Bu)の測定抵抗(M)は、1つの共通のブリッジ平面に設けられており、(c)測定ブリッジ(Bo、Bu)は、電流導体(Li)の両側で、相互に実質的に面平行なブリッジ平面に設けられており、(d)それぞれの測定ブリッジ(Bo、Bu)が、各1つの補償導線(Lk)を有しており、測定ブリッジ(Bo、Bu)の補償電流(Ik)の和を形成し、前記補償電流(Ik)の和は電流(Io)に比例することを特徴とする電流導体を流れる電流を測定するための装置。

IPC (2件)：

G01R 15/20 ,  G01R 33/09

FI (2件)：

G01R 15/02 B ,  G01R 33/06 R