特許
J-GLOBAL ID：200903099592006482

光断層映像装置

発明者：
藤田 寛

藤田 寛 について


出願人/特許権者：
フジノン株式会社

フジノン株式会社 について


代理人 (1件)： 川野 宏
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-352458
公開番号（公開出願番号）：特開2006-162366
出願日： 2004年12月06日
公開日（公表日）： 2006年06月22日
要約：
【課題】極力少ない照射時間で被検体に関するより多くの断層映像情報の取得を可能とする。【解決手段】光源部は波長帯域が互いに異なり、同時出射可能な2つの低可干渉性光源10,11を用いてなり、その出射光は、2×2カプラ22によりプローブ30を介して被検体71へ照射される光束と、波長帯域毎に設けられた参照ミラー23,24へ照射される光束とに2分される。参照ミラー23,24へ照射される光束は、ダイクロイックミラー26により波長帯域毎に分光、照射され、参照光として2×2カプラ22へ再帰し、被検体71からの被検光と合波される。その後、分光光学系によって、波長帯域毎に光検出器41へ照射され、信号処理部65において信号処理されることで、波長帯域毎に被検体71の異なる部位についての光断層映像が得られる構成となっている。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
少なくとも2つの互いに異なる波長帯域において低可干渉性を有する光を出射する光源と、 該光源から出射された光束を2分し、その一方を被検体へ照射すると共に、他方を参照面に照射し、該参照面および該被検体から各々反射された光束を合波せしめることによって干渉光を得、該干渉光の光強度分布を光検出器によって得られるよう構成された干渉計と、 該干渉計により得られた光強度分布信号に基づき断層映像信号を得る信号処理部とを具備し、 前記干渉計には、前記参照面へ照射される前記他方の光束を、少なくとも第1の波長帯域の光束と第2の波長帯域の光束とに位相ずれを生ずることなく分離する波長選択素子が設けられると共に、前記参照面が形成された反射光学素子が該波長選択素子により2分された光束に対してそれぞれ設けられてなる一方、 前記信号処理部は、前記光源の波長帯域毎に前記断層映像信号を生成すると共にその合成信号を出力するよう構成されてなることを特徴とする光断層映像装置。
IPC (3件)：
G01N 21/17 ,  A61B 1/04 ,  A61B 10/00
FI (3件)：
G01N21/17 625 ,  A61B1/04 370 ,  A61B10/00 E
Fターム (20件)：
2G059AA05 ,  2G059AA06 ,  2G059BB12 ,  2G059EE02 ,  2G059EE09 ,  2G059EE11 ,  2G059FF02 ,  2G059GG03 ,  2G059JJ05 ,  2G059JJ07 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ12 ,  2G059JJ13 ,  2G059JJ17 ,  2G059JJ22 ,  2G059KK04 ,  2G059LL01 ,  4C061CC06 ,  4C061FF47 ,  4C061LL10
引用特許：
出願人引用 (1件) 審査官引用 (2件)

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