特許
J-GLOBAL ID:200903099598554848
分析装置
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
石田 敬 (外3名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2001-267715
公開番号(公開出願番号):特開2003-075332
出願日: 2001年09月04日
公開日(公表日): 2003年03月12日
要約:
【要約】【課題】 プラズマアシスト触媒反応系の技術開発に有用な、振動分光分析と発光分光分析が整合よく実施することができる分析装置を提供する。【解決手段】 振動分光分析と発光分光分析を1つのサンプルについて同時に実施できることを特徴とする分析装置である。この分析装置は、サンプルを介在させる電極、サンプルに入射光を照射し、その反射光もしくは透過光又は散乱光を分析する振動分光分析器、及び前記電極に電圧を印加したときの前記サンプルからの発光を分析する発光分光分析器を備えることができる。この分析装置によると、反応成分、中間生成物、及び反応生成物の状態について、化学種とその励起状態が同時に把握され、励起状態を含む反応経路や反応に及ぼす要因が高い精度で解析することができる。
請求項(抜粋):
振動分光分析と発光分光分析を1つのサンプルについて同時に実施できるように構成されてなる分析装置。
IPC (4件):
G01N 21/27
, G01N 21/35
, G01N 21/65
, G01N 21/67
FI (4件):
G01N 21/27 B
, G01N 21/35 Z
, G01N 21/65
, G01N 21/67 C
Fターム (35件):
2G043AA01
, 2G043AA04
, 2G043CA01
, 2G043DA08
, 2G043EA03
, 2G043EA09
, 2G043EA13
, 2G043EA14
, 2G043EA17
, 2G043EA18
, 2G043FA06
, 2G043GA09
, 2G043GB11
, 2G043HA05
, 2G043JA01
, 2G043KA01
, 2G043KA09
, 2G043LA03
, 2G043NA01
, 2G059AA01
, 2G059BB01
, 2G059DD12
, 2G059DD16
, 2G059EE01
, 2G059EE02
, 2G059EE03
, 2G059EE10
, 2G059EE12
, 2G059GG01
, 2G059HH01
, 2G059JJ01
, 2G059JJ17
, 2G059KK03
, 2G059KK04
, 2G059MM01
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