特許

J-GLOBAL ID：200903099629277686

インサーキットテスタのテストヘッド部

発明者： 長屋 邦男 ,  山田 和仁
出願人/特許権者： イビデン株式会社
代理人 (1件)： 恩田 博宣
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-102997
公開番号（公開出願番号）：特開平7-311242
出願日： 1994年05月17日
公開日（公表日）： 1995年11月28日
要約：

【要約】【目的】 構造が簡単であるにもかかわらず不良検出能力を向上できるインサーキットテスタのテストヘッド部を提供すること。【構成】 テストヘッド部10のブロック12は、プリント配線板1上に実装されたコネクタ2のレセプタクル3に嵌脱可能である。ブロック12上には複数のコネクタ用テストプローブ11が配列されている。コネクタ用テストプローブ11のピッチは、レセプタクル3のコンタクト5aのピッチと同程度である。コネクタ用テストプローブ11上には、ブロック12の嵌脱時にコンタクト5aの表面に対して摺接する接触面11aが形成される。

請求項（抜粋）：

プリント配線板上に実装されたコネクタの電気検査を行うためのインサーキットテスタのテストヘッド部において、前記コネクタに対して嵌脱可能なブロック上に複数のコネクタ用テストプローブを配列するとともに、前記コネクタ用テストプローブのピッチを前記コネクタのコンタクトのピッチと同程度に設定し、かつ前記ブロックの嵌脱時に前記コンタクトの表面に対して摺接する接触面を同テストプローブ上に形成したインサーキットテスタのテストヘッド部。

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 検査ヘッド
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-097885   出願人：三菱電機株式会社
• 特開昭49-083893
  
• 特開昭49-083893