特許
J-GLOBAL ID：200903099630006823
形状測定方法及び装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
則近 憲佑
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-173562
公開番号（公開出願番号）：特開平5-231837
出願日： 1992年07月01日
公開日（公表日）： 1993年09月07日
要約：
【要約】【構成】 実装基板上の電子部品に施されたはんだ付け部に対し所定角度ごとに照明したときの正反射光を撮像し、それら撮像画像データ同士を引き算処理しあって両者に共通する配線などのイメージを消去してから、はんだ付け部の形状を算出する。【効果】 不要な画像情報を除去することによって画像処理を効率的に行うことができる。
請求項（抜粋）：
測定対象物に対し所定角度ごとに照明する照明工程と、照明された測定対象物からの反射光を撮像して画像信号を出力する撮像工程と、画像データ同士を引き算処理して共通の画像情報を消去した第1の画像データを作成する第1の演算工程と、前記第1の画像データに基づいて測定対象物の形状を測定する第2の演算工程とを具備することを特徴とする形状測定方法。
IPC (2件)：
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