特許
J-GLOBAL ID:200903099642859678

評価装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 北村 修一郎
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2000-372448
公開番号(公開出願番号):特開2002-174592
出願日: 2000年12月07日
公開日(公表日): 2002年06月21日
要約:
【要約】【課題】 被計測物の内部品質を解析するとともに、被計測物の外観を検査することを可能としながら、コストの低減を図り、かつ、設置作業およびメンテナンス作業の容易化を図ることが可能となる評価装置を提供する点にある。【解決手段】 内部品質計測対象箇所1を通過するように被計測物Mを搬送する搬送手段2が設けられ、搬送手段2における被計測物Mの搬送方向において内部品質計測対象箇所1よりも上流側の外観検査計測対象箇所4に位置する被計測物Mの外観情報を検出する外観検出手段5が設けられ、制御手段8が、外観検出手段5の検出情報に基づいて、被計測物Mの外観を検査するとともに、その被計測物Mの外観を検査するときの搬送方向での被計測物Mの位置情報に基づいて、内部品質計測対象箇所1に対する被計測物Mの位置情報を管理して、投受光手段3を制御するように構成されている評価装置。
請求項(抜粋):
内部品質計測対象箇所を通過するように被計測物を搬送する搬送手段が設けられ、前記内部品質計測対象箇所に位置する前記被計測物に光を照射して、前記被計測物からの透過光または反射光を受光する投受光手段と、その投受光手段の動作を制御しかつ前記投受光手段にて受光した光により前記被計測物の内部品質を解析する制御手段とを備えた評価装置であって、前記搬送手段における前記被計測物の搬送方向において前記内部品質計測対象箇所よりも上流側の外観検査計測対象箇所に位置する前記被計測物の外観情報を検出する外観検出手段が設けられ、前記制御手段が、前記外観検出手段の検出情報に基づいて、前記被計測物の外観を検査するとともに、その被計測物の外観を検査するときの前記搬送方向での前記被計測物の位置情報に基づいて、前記内部品質計測対象箇所に対する前記被計測物の位置情報を管理して、前記投受光手段を制御するように構成されている評価装置。
IPC (3件):
G01N 21/27 ,  G01N 21/35 ,  G01N 21/85
FI (3件):
G01N 21/27 Z ,  G01N 21/35 Z ,  G01N 21/85 A
Fターム (49件):
2G051AA05 ,  2G051AB20 ,  2G051AC02 ,  2G051BA01 ,  2G051BA06 ,  2G051BA10 ,  2G051BB15 ,  2G051CA03 ,  2G051CA04 ,  2G051CA07 ,  2G051CB01 ,  2G051CB02 ,  2G051CB06 ,  2G051DA01 ,  2G051DA06 ,  2G051EA16 ,  2G051EA17 ,  2G051EA23 ,  2G051EA25 ,  2G051EB01 ,  2G051EB02 ,  2G051EC03 ,  2G051EC06 ,  2G051ED07 ,  2G051ED23 ,  2G059AA01 ,  2G059AA05 ,  2G059BB11 ,  2G059DD12 ,  2G059EE01 ,  2G059EE02 ,  2G059EE12 ,  2G059EE13 ,  2G059FF08 ,  2G059GG00 ,  2G059GG10 ,  2G059HH01 ,  2G059HH06 ,  2G059JJ02 ,  2G059JJ05 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ13 ,  2G059JJ23 ,  2G059KK01 ,  2G059KK04 ,  2G059LL04 ,  2G059MM01 ,  2G059MM03 ,  2G059MM05

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