特許

J-GLOBAL ID：200903099650389427

近赤外分析装置

発明者： 藤岡 定和 ,  森 泰一
出願人/特許権者： 井関農機株式会社
代理人 (1件)： 牧 哲郎 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-218720
公開番号（公開出願番号）：特開平6-043095
出願日： 1992年07月27日
公開日（公表日）： 1994年02月18日
要約：

【要約】【目的】近赤外線を利用して定量分析を行う場合に、サンプルの温度や水分などの吸光度の変動要因に左右されずに精度よく行うことができる装置を提供すること。【構成】基準板により、対照スペクトルの測定を所定回数行ったのち、その平均を求める(S1〜S4)。同様に、未知の試料についてスペクトルの測定を所定回数行ったのち、その平均を求める(S5〜S8)。その後、両スペクトルから吸光度を求めたのち微分処理し(S9,10)、測定スペクトルデータに基づいて試料の温度を演算する(S11)。求めた試料温度と検量線作成時の基準温度との温度差を求め(S12)、その温度差により、測定スペクトルと検量線作成時のスペクトルとのシフト量を求める(S13)。シフト量を用いて、基準温度下におけるスペクトルに補正するための演算を行う(S14)。補正された吸光度を2次微分したのち(S15)、その2次微分吸光度により検量線を用いて、試料の所定成分の濃度を推定する計算をして表示する(S16,S17)。

請求項（抜粋）：

サンプルに対して近赤外線を照射して吸光度を測定する吸光度測定手段と、既知のサンプルについて、検量線作成用の基準吸光度および所定の外的変動特性値のときの吸光度を、前記吸光度測定手段によりあらかじめ測定し、両者の吸光度のずれ量を求めるずれ量算出手段と、算出したずれ量を記憶する記憶手段と、未知のサンプルの外的変動特性値を測定する外的変動特性値測定手段と、未知のサンプルについて、前記吸光度測定手段により吸光度を測定したときに、外的変動特性値測定手段の測定値に応じて、その測定吸光度を前記記憶手段に記憶するずれ量により前記基準吸光度に補正する測定吸光度補正手段と、補正した吸光度に基づき、前記検量線によりサンプル成分を分析する分析手段と、を備えてなる近赤外分析装置。

IPC (2件)：

G01N 21/35 ,  G01N 21/27

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 特開昭64-049937
  
• 特開昭63-175747
  
• 特開昭62-299743