特許

J-GLOBAL ID：200903099670355162

岩盤、コンクリート等の組織を解析する方法

発明者： 西山 孝
出願人/特許権者： 西山 孝 ,  株式会社マルイ
代理人 (1件)： 鈴木 ハルミ
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-280786
公開番号（公開出願番号）：特開平6-109723
出願日： 1992年09月25日
公開日（公表日）： 1994年04月22日
要約：

【要約】【目的】 岩盤やコンクリートの内部の様子を穿孔時の影響を受けることなくより忠実に把握することを目的とする。【構成】 被試験層に試掘孔を設け、試掘孔内壁に蛍光染料を添加したシアノアクリレート又はメチルメタクリレートの接着液を塗布して浸透固化した時点で試掘孔内壁面の接着剤過剰付着分を除去する。その後試掘孔壁に紫外線を照射し乍ら一次元的に時間軸上の画像信号として取り出し、特定の閾値によって二値化し、画像処理するようにしてなる。

請求項（抜粋）：

岩盤、コンクリート等の被試験層に予め試掘孔を穿設し、該試掘孔の内壁に蛍光染料を添加したシアノアクリレート又はメチルメタクリレートを塗布浸潤させた後、該試掘孔表面を整えてから、該表面に紫外線を照射して発光せしめ、観察することおよび画像処理法によりその際の発光分布を一定の閾値によって二値化することによって岩盤、コンクリート等の組織を解析する方法。

IPC (2件)：

G01N 33/38 ,  G01N 21/91

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 特開平1-114740
  
• 特開昭63-204142
  
• 特開平1-195351