特許

J-GLOBAL ID：200903099684215525

半田付け検査装置

発明者： 北山 綱次 ,  渡辺 恵一
出願人/特許権者： 株式会社豊田中央研究所
代理人 (1件)： 守田 賢一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-357895
公開番号（公開出願番号）：特開平10-185528
出願日： 1996年12月26日
公開日（公表日）： 1998年07月14日
要約：

【要約】【課題】 半田付けの良否を確実に判定する。【解決手段】 撮像装置8により、半田付けされる電極を含むプリント基板2上の所定領域の画像を得る。データ処理装置6はその画像処理部61にて、上記撮像装置8で得られた画像各部の輝度を平滑化する輝度平滑化処理を行うとともに、平滑化された上記画像についてその輝度コントラストを強調するコントラスト強調処理を行う。そして、輝度コントラストが強調された画像に基づいて半田付け状態の良否を判定する。

請求項（抜粋）：

半田付けされる電極を含む基板上の所定領域の画像を得る撮像手段と、撮像手段で得られた前記画像の各部の輝度を平滑化する輝度平滑化手段と、平滑化された前記画像についてその輝度コントラストを強調するコントラスト強調手段と、輝度コントラストが強調された前記画像に基づいて半田付け状態を判定する判定手段とを具備する半田付け検査装置。

IPC (5件)：

G01B 11/24 ,  G06T 7/00 ,  G06T 5/20 ,  H05K 3/34 512 ,  H05K 13/08

FI (6件)：

G01B 11/24 C ,  G01B 11/24 K ,  H05K 3/34 512 A ,  H05K 13/08 Q ,  G06F 15/62 405 A ,  G06F 15/68 400 A