カタログ試験装置

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：林恒徳 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-332784
公開番号（公開出願番号）：特開2001-147829
出願日： 1999年11月24日
公開日（公表日）： 2001年05月29日
要約：

【要約】【課題】カタログ試験の試験時間を短縮する。【解決手段】カタログ機能用いた試験(カタログ試験)におけるパラメータ設定処理と試験プログラム読み込み処理が並行して同時に実行される。さらに、複数の試験プログラムが実行される場合、試験プログラムの読み込み順序が、記録媒体上の試験プログラムの格納位置に応じて並べ替えられる。これにより、試験を開始するまでの時間が短縮される。

請求項（抜粋）：

カタログ機能を用いて装置の試験を実行するカタログ試験装置において、試験プログラムの実行指示及び試験実行に必要なパラメータの設定指示を含むカタログデータを読み込むカタログデータ読み込み部と、前記パラメータを設定するパラメータ設定部と、前記試験プログラムを読み込む試験プログラム読み込み部と、前記試験プログラムを実行する試験プログラム実行部とを備え、前記パラメータ設定部による処理及び前記試験プログラム読み込み部による処理は、並行して実行され、両処理終了後に、前記試験プログラム実行部は、読み込まれた試験プログラムを実行することを特徴とするカタログ試験装置。

Fターム (3件)：

5B048AA00 , 5B048DD02 , 5B048FF03

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