特許

J-GLOBAL ID：200903099718084328

光学式分析装置

発明者： 宇佐美 諄 ,  西脇 基祐
出願人/特許権者： 日本碍子株式会社
代理人 (1件)： 杉村 暁秀 (外5名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-231047
公開番号（公開出願番号）：特開平5-045286
出願日： 1991年08月20日
公開日（公表日）： 1993年02月23日
要約：

【要約】【目的】 安定した測定値を長時間にわたって得ることができ、さらに固体電気化学セルを用いたガス分析を同時に実施する。【構成】 紫外線、可視光または赤外線を発する光源部1と、被測定ガスを通過した該光源部1からの出射光を受光する検出部21とを少なくとも有する光学式分析装置において、前記光源部1として固体電気化学セル2を用いる。

請求項（抜粋）：

紫外線、可視光または赤外線を発する光源部と、被測定ガスを通過した該光源部からの出射光を受光する検出部とを少なくとも有する光学式分析装置において、前記光源部として固体電気化学セルを用いたことを特徴とする光学式分析装置。

IPC (3件)：

G01N 21/61 ,  G01N 21/33 ,  G01N 21/35

引用特許：

審査官引用 (4件)

• 特開昭61-265554
  
• 特開平3-140739
  
• 特開昭49-089498
  
• 特開平2-284046