特許

J-GLOBAL ID：200903099732096720

光学特性測定装置

発明者： 長瀬 英俊
出願人/特許権者： 星和電機株式会社
代理人 (2件)： 大西 孝治 ,  大西 正夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-213221
公開番号（公開出願番号）：特開2006-030135
出願日： 2004年07月21日
公開日（公表日）： 2006年02月02日
要約：

【目的】 本発明の目的は、LEDチップ等の測定対象のより正確な光学特性を測定することができる光学特性測定装置を提供する。【構成】 ステージ100上に載置されたLEDチップ10の電極に接触し、当該LEDチップ10を発光させるためのプローブ針200と、LEDチップ10の照射光を検出し、その光学特性を測定する検出測定手段300と、LEDチップ10をステージ100上の測定位置で把持し、これによりLEDチップ10を検出測定手段300の検出部310に対向させる位置決め手段400とを具備する。位置決め手段400は、LEDチップ10を把持する一対の爪部410、410を有する。この爪部410、410は、LEDチップ10に当接する当接部の周辺部がLEDチップ10の正面光以外の照射光を検出部310に向けて反射する反射面411、411となっている。【選択図】 図1

請求項（抜粋）：

LEDチップ等の測定対象の照射光を検出し、その光学特性を測定する検出測定手段と、測定対象を測定位置で把持し、これにより測定対象を検出測定手段の検出部に対向させる位置決め手段とを具備した光学特性測定装置において、前記位置決め手段は、測定対象を把持する複数の爪部を有し、この爪部の測定対象に当接する当接部の周辺部が測定対象の正面光以外の照射光を検出部に向けて反射する反射面となっていることを特徴とする光学特性測定装置。

IPC (2件)：

G01M 11/00 ,  H01L 33/00

FI (2件)：

G01M11/00 T ,  H01L33/00 K

Fターム (2件)：

2G086EE03 ,  5F041AA46

引用特許：

出願人引用 (1件)

• 特開2000- 180122号公報
  

審査官引用 (2件)

• 特開昭57-096582
  
• 特開昭57-096582