特許

J-GLOBAL ID：200903099738698497

画素欠陥補正装置および画素欠陥補正方法

発明者： 隅谷 一徳 ,  矢田 学 ,  樋爪 太郎 ,  渋井 信宏
出願人/特許権者： 松下電器産業株式会社
代理人 (3件)： 大野 聖二 ,  森田 耕司 ,  鈴木 守
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-338662
公開番号（公開出願番号）：特開2006-148748
出願日： 2004年11月24日
公開日（公表日）： 2006年06月08日
要約：

【課題】 画素欠陥を精度良く検出・補正することで、画質の劣化が少ない高品質な画像を得ることができる画素欠陥補正装置を提供することを目的とする。【解決手段】 画素欠陥補正装置10は、映像を入力する画像信号入力部11と、画像信号入力部11に入力された映像において、欠陥画素であるか否かの検査対象画素の周囲の同色画素値の変化量を算出する周囲同色画素最大値算出部12および周囲同色画素最小値算出部13と、検査対象画素の周囲の画素の輝度値を算出する周囲輝度値算出部14と、同色画素値の変化量と輝度値とに基づいて欠陥画素を検出するための閾値を算出する閾値算出部15と、閾値を用いて検査対象画素が欠陥画素であるかを判定する比較器16と、比較器16にて検出された欠陥画素の画素値を補正するセレクタ17とを備える。【選択図】 図1

請求項（抜粋）：

映像を入力する映像入力手段と、 前記映像入力手段に入力された映像において、欠陥画素であるか否かの検査対象画素の周囲の同色画素値の変化量を算出する変化量算出手段と、 前記検査対象画素の周囲の画素の輝度値を算出する輝度値算出手段と、 前記同色画素値の変化量と前記輝度値とに基づいて欠陥画素を検出するための閾値を算出する閾値算出手段と、 前記閾値を用いて前記検査対象画素が欠陥画素であるかを判定する欠陥画素検出手段と、 前記欠陥画素検出手段にて検出された欠陥画素の画素値を補正する補正手段と、 を備えたことを特徴とする画素欠陥補正装置。

IPC (1件)：

H04N 5/335

FI (1件)：

H04N5/335 P

Fターム (5件)：

5C024CX22 ,  5C024CX23 ,  5C024DX01 ,  5C024HX29 ,  5C024HX55

引用特許：

出願人引用 (1件)

• 画素欠陥検出装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平11-259344   出願人：株式会社東芝