特許

J-GLOBAL ID：200903099741719470

漏電検出装置

発明者： 佐藤 和志
出願人/特許権者： 三菱電機株式会社
代理人 (1件)： 大岩 増雄
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-139298
公開番号（公開出願番号）：特開平9-322383
出願日： 1996年05月31日
公開日（公表日）： 1997年12月12日
要約：

【要約】【課題】 テスト装置を連続して動作させても、テスト装置が焼損することがなく、また、漏電検出の制御回路が極性判別によるサ-ジ除去機能を持ったものでも確実にテスト動作が可能な漏電検出装置を得る。【解決手段】 交流電源に接続された主回路1から制御電源を得る漏電検出装置において、直流側が制御回路4の電源に接続された整流回路7の交流側を、電圧降下素子8を介して主回路1に接続し、整流回路7の直流側に定電圧素子15を接続する。さらに整流回路7の交流側のいづれか一方の端子にテストスイッチ9を介して、一端が制御回路のアースに接続された直列に構成された抵抗10a、10bに接続し、抵抗10a、10bの接続点で所定の分圧がなされた信号をコンデンサ7を介して制御回路4の入力の両端に接続された抵抗12、13bに接続する。

請求項（抜粋）：

交流電源に接続された主回路と電磁的に結合され、上記主回路の不平衡電流を検出して二次巻線に出力する零相変流器、この零相変流器の二次巻線の信号を入力側で受け、その信号の大きさが所定値以上のとき漏電検出信号を発生する制御回路、上記主回路に電圧降下素子を介して接続され、定電圧素子を介して直流側が上記制御回路に電源供給用として接続される整流回路、上記制御回路の制御機能を確認するテストスイッチを介して上記整流回路の交流側のいずれか一端と上記制御回路の入力端とを結ぶテスト回路を備え、上記テスト回路は、上記整流回路の交流側の一端の交流成分を低圧化し、かつ波形整形して上記制御回路入力端に与えるようにしていることを特徴とする漏電検出装置。

IPC (7件)：

H02H 3/33 ,  G01R 31/02 ,  H01H 83/02 ,  H01H 83/04 ,  H02H 7/04 ,  H02J 3/01 ,  H02J 17/00

FI (7件)：

H02H 3/33 ,  G01R 31/02 ,  H01H 83/02 E ,  H01H 83/04 ,  H02H 7/04 J ,  H02J 3/01 B ,  H02J 17/00 B

引用特許：

出願人引用 (2件)

• 地絡検出装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平6-143219   出願人：三菱電機株式会社
• 漏電遮断器
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-001492   出願人：三菱電機株式会社

審査官引用 (2件)

• 地絡検出装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平6-143219   出願人：三菱電機株式会社
• 漏電遮断器
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-001492   出願人：三菱電機株式会社