特許

J-GLOBAL ID：200903099807879792

測距装置及び調整装置

発明者： 野中 修
出願人/特許権者： オリンパス光学工業株式会社
代理人 (1件)： 鈴江 武彦 (外4名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-268299
公開番号（公開出願番号）：特開2000-098214
出願日： 1998年09月22日
公開日（公表日）： 2000年04月07日
要約：

【要約】【課題】スポット欠けに対して強い測距装置を提供すること。【解決手段】CPU10は、SW制御により、PSD5をPSDモードに設定して測距を行い、この測距結果がSPDモードの有効範囲に相当する所定距離範囲内(例えば、1mよりも遠く且つ5mよりも近い)であるときには、PSD5をSPDモードに切換えて再測距を行う。

請求項（抜粋）：

測距対象物に光を投射する投光手段と、この投光による測距対象物からの反射光の入射位置を光電流に基いて測定する光位置検出手段とを備えた測距装置であって、上記光位置検出手段は、光電流の分配モードを第1モードと第2モードとに切換える切換え手段を有し、上記第1モードにて測距を行い、この測距結果が所定距離範囲内であるとき、上記第2モードで再測距を行うように上記切換え手段を制御する制御手段を更に具備したことを特徴とする測距装置。

IPC (4件)：

G02B 7/28 ,  G01C 3/06 ,  G02B 7/32 ,  G03B 13/36

FI (4件)：

G02B 7/11 N ,  G01C 3/06 A ,  G02B 7/11 B ,  G03B 3/00 A

Fターム (20件)：

2F112AA06 ,  2F112AA10 ,  2F112BA06 ,  2F112CA02 ,  2F112DA26 ,  2F112DA28 ,  2F112EA01 ,  2F112FA03 ,  2F112FA45 ,  2H011AA01 ,  2H011BA14 ,  2H011BB00 ,  2H011BB02 ,  2H051AA02 ,  2H051BB20 ,  2H051BB24 ,  2H051CA17 ,  2H051CB23 ,  2H051CB24 ,  2H051GB19