特許

J-GLOBAL ID：200903099828747616

非線形光学定数評価方法

発明者： 木口 雅史 ,  加藤 美登里 ,  奥中 正昭 ,  谷口 彬雄 ,  田中 尚樹
出願人/特許権者： 株式会社日立製作所
代理人 (1件)： 小川 勝男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-218264
公開番号（公開出願番号）：特開平5-052740
出願日： 1991年08月29日
公開日（公表日）： 1993年03月02日
要約：

【要約】【目的】本発明の目的は、粉末試料を用いても結果が平均粒径のコヒーレンス長に対する相対的大きさによらない簡便な評価方法を提供することにある。【構成】基本波をプリズムにより全反射せしめ、試料をプリズムに密着させるか、あるいは微小間隙を設けて配置し、全反射によるエバネッセント波を用いて、高次高調波を発生せしめ、その発生効率を測定することにより非線形光学定数を評価する。また、全反射面に金属層を設け、表面プラズモンを励起することにより、高感度化がはかれる。【効果】本発明によれば、結晶成長を行なわずに、粉末状の試料を用いて簡便に非線形感受率の評価を行なうことができ、材料の探索や選別の能率が向上する。

請求項（抜粋）：

基本波をプリズムにより全反射せしめ、試料をプリズムに密着させるか、あるいは微小間隙を設けて配置し、全反射によるエバネッセント波を用いて、高次高調波を発生せしめ、その発生効率を測定することを特徴とする非線形光学定数評価方法。