特許

J-GLOBAL ID：200903099834564043

元素分析装置

発明者： 植村 健 ,  駒谷 慎太郎 ,  平野 彰弘
出願人/特許権者： 株式会社堀場製作所
代理人 (1件)： 藤本 英夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-134222
公開番号（公開出願番号）：特開2000-321265
出願日： 1999年05月14日
公開日（公表日）： 2000年11月24日
要約：

【要約】【課題】 昇温の迅速さと操作の簡便さで金属中のCやSの分析を行うのに最適な高周波誘導加熱方式の高周波加熱炉を用いて金属以外の非電導性試料(オイル等の有機物、セラミックス、鉱物等)中に含まれるCやSを分析できる元素分析装置を提供すること。【解決手段】 高周波加熱炉8内に、耐熱性に優れた高融点素材の酸化物およびこの酸化物に埋設された高周波誘導加熱により発熱する電導性発熱体3よりなる試料用容器2をるつぼとして設け、高周波加熱炉8内に酸素ガスを供給しながら前記電導性発熱体3の発熱により非電導性試料Sを燃焼させ、この非電導性試料S中に含まれる炭素および/または硫黄を分析するように構成されている。

請求項（抜粋）：

高周波加熱炉内に、耐熱性に優れた高融点素材の酸化物およびこの酸化物に埋設された高周波誘導加熱により発熱する電導性発熱体よりなる試料用容器をるつぼとして設け、高周波加熱炉内に酸素ガスを供給しながら前記電導性発熱体の発熱により非電導性試料を燃焼させ、この非電導性試料中に含まれる炭素および/または硫黄を分析するように構成されたことを特徴とする元素分析装置。

IPC (3件)：

G01N 31/12 ,  G01N 1/22 ,  G01N 31/00

FI (4件)：

G01N 31/12 A ,  G01N 1/22 T ,  G01N 31/00 D ,  G01N 31/00 P

Fターム (12件)：

2G042AA01 ,  2G042BA01 ,  2G042BA08 ,  2G042CA04 ,  2G042CA05 ,  2G042CA08 ,  2G042CB03 ,  2G042CB06 ,  2G042DA04 ,  2G042FA16 ,  2G042HA02 ,  2G042HA10